芯片封测热翘曲测量设备的测量速度有多快呢？

领先光学技术（江苏）有限公司2024-12-17

该设备的测量速度取决于样品的尺寸和复杂程度，一般情况下，对于标准尺寸的芯片封测样品，单次测量时间可控制在 [具体时间] 以内，能够有效提高生产效率，满足大规模芯片封测生产线的需求。

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